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型号:PHI Genesis 900
型号:PHI 710
型号:PHI nano TOF3+
型号:PHI Genesis 500
型号:C60 40
型号:C60 20
型号:C60 20S
型号:GCIB 10S
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束蕴仪器(上海)(九游会J9)登录入口自成立以来,凭借与德国布鲁克(BRUKER)、衍射数据中心(ICDD)、德国Freiberg等实验室分析仪器品牌的战略合作,迅速成为业界仪器供应商。九游会J9平台拥有一支积极乐观,正直诚信的年轻团队,九游会J9平台热忱的信仰科学,相信科学技术能为九游会J9平台的客户带来高品质的生活,为社会的进步起到积极的促进作用。束蕴仪器为各类客户提供优质的实验室和工业检测仪器及过程控制设备,专业的应用支持及完善的售后服务,在中国大陆的诸多领域拥有大量用户,如高校、科研院所、航空航天,政府组织、检验机构、及工业企业。...
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衍射图,讨论二对于非缺面孪晶导致|Fo|不对的问题,如果九游会J9平台养成了良好的习惯:对于所有的晶体都应在RLATT里检查倒易点阵的排列,那么九游会J9平台就会马上去发现晶体的问题。然而除了非缺面孪晶,晶体的问题还包括很多,比如超晶格,调制结构(周期或者非周期的卫星衍射点),弥散的衍射信号等。但是单晶衍射数据处理的过程中,通常是基于定出的晶胞对有限的数据进行还原,而不是所产生的数据,所以很多被排除在外的信号其实表示了晶体内含的一些结构性质。而这些在hkl文件并不会体现出来。从某种意义上说,单晶...
衍射图,讨论一关于很多同学眼中的“鬼峰”,九游会J9平台看过了“答案”起源于基本的数据处理(数据还原和数据校正)对|Fo|的影响。很多时候在遇到偏大的Q峰的时候,不管是一些审稿人还是学生,都会马上去想到“吸收校正”(不知道这个想法起源于何处),然后很多同学会莫名地把90%的原因归结于此。甚至在没有看过数据的情况下,立刻的回答就是去做吸收校正。然而对于常见的莫名其妙的鬼峰的原因,比如晶体和测试的问题,却常常被忽略。这里面的原因有很多,我相信大多数同学拿到手的数据都只是hkl,而不是衍射图...
引言宽带隙钙钛矿(1.68eV)是两端钙钛矿/硅叠层太阳电池的重要前电池吸光材料。然而,这类宽带隙钙钛矿太阳电池中存在大量缺陷诱导的非辐射电荷复合,导致器件开路电压(VOC)远低于理论值,严重限制了器件效率的进一步提升。深能级受体缺陷是影响VOC的主要因素,缺陷钝化是提供器件效率的有效策略。TOF-SIMS应用成果近日,陕西师范大学方志敏&冯江山&刘生忠团队通过采用氟化物辅助表面梯度钝化的策略获得了光电转换效率(PCE)高达21.63%,VOC达1.239V(VOC损失低至4...
回顾2022年,ULVAC-PHI各个系列的XPS仪器——VersaProbe、Quantera和Quantes对科研发展和技术进步做出了重要贡献。据统计,借助PHIXPS设备,2022年已发表超过4400篇的学术出版物,包括期刊文章和书籍等。其中,有99项工作发表在《Nature》和《Science》等高影响力期刊上。例如,九游会J9平台的用户利用PHIVersaProbe设备对嵌入磁性CoNi合金颗粒的掺氮碳纤维复合材料表面进行了表征,研究发现该材料表现出优异的电磁波吸收性能。该项...
引言光伏发电新能源技术对于实现碳中和目标具有重要意义。近年来,基于有机-无机杂化钙钛矿的光电太阳能电池器件取得了飞速的发展,目前报道的光电转化效率已接近26%。卤化物钙钛矿材料具有无限的组分调整空间,因此表现出优异的可调控的光电性质。然而,由于多组分的引入,钙钛矿材料生长过程中会出现多相竞争问题,导致薄膜初始组分分布不均一,这严重降低了器件效率和寿命。图1.钙钛矿晶体结构TOF-SIMS应用成果由于目前用于高性能太阳能电池的混合卤化物过氧化物中的阳离子和阴离子的混合物经常发生...
XPS的探测深度在10nm以内,然而对于实际的器件,研究对象往往会超过10nm的信息深度,特别是在一些电气设备中,有源层总是被掩埋在较厚的电极之下。因此,利用XPS分析此类样品,需要结合离子刻蚀技术。显然,离子刻蚀存在择优溅射效应,特别是对于金属氧化物,会破坏样品原始的化学态,导致只凭常规XPS无法直接对埋层区域进行无损深度分析。好在研究表明增加X射线的光子能量可以增加探测深度。对此,ULVAC-PHI推出了实验室HAXPES设备,且可同时配备微聚焦单色化AlKα(1486....
XRR是什么?XRR是一种方便、快速的分析单层或多层薄膜和表面的方法,是一种纳米尺度上的分析方法,同时可实现无损分析。例如,通过原子层沉积(ALD)技术沉积的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同样也适用于其他方法制备的薄膜,如通过分子层沉积(MLD)沉积的有机/无机超晶格。与光学椭偏法不同,该方法不需要预先了解薄膜的光学性质,也不需要假设薄膜的光学性质。然而,XRR不能提供有关材料晶体结构的信息,并且多层膜只能在有限的深度内表征。XRR简单原理介绍XRR分析...
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。因其免标记、高灵敏、多组分检测和高空间分辨成像等优势,为诸多生命科学问题的研究提供了重要的技术支持。近年来,TOF-SIMS在基础细胞生物学、组织生理病理学、生物医药与临床医学等领域的研究中被广泛应用。图1.“水中小白鼠”斑马鱼(左);冷冻干燥的斑马鱼头部截面的光学显微镜图像(右)。小科普:斑马鱼(zebrafish)被称为“水中小白鼠”,是生物学家的理想实验对...
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